这一分析流程中广泛应用在半导体封装的深埋结构分析中。利用楚雄蔡司楚雄X射线显微镜和搭载飞秒激光系统的蔡司双束电镜Crossbeam Laser(LaserFIB)，准确定位样品的目标区域，并进一步进行高分辨成像拍摄和EDS分析。
蔡司双束电镜与X射线显微镜联用半导体封装分析
分类：公司新闻 发布时间：2024-05-06 11451次浏览
这一分析流程中广泛应用在半导体封装的深埋结构分析中。利用蔡司X射线显微镜和搭...
相关新闻
-
蔡司扫描电镜的基本操作方法
2023-01-03
-
使用扫描电镜的原因及注意事项
2022-12-14
-
扫描电子显微镜知识点汇总（上）
2022-09-30
-
蔡司扫描电镜与纳米CT助力纳米药物研发
2022-07-13
-
蔡司sigma300扫描电镜优势及配置参数
2021-10-25
-
如何选择进口显微镜？
2021-03-24
-
蔡司： 汽车测量不二的选择
2021-03-24
